超納(na)米(mi)壓痕測試儀(yi)

UNHT³ 高(gao)精(jing)度(du)超納(na)米(mi)壓痕測試儀(yi)采(cai)用真(zhen)實力(li)傳感(gan)器和位(wei)移(yi)傳感(gan)器，可用於測量材(cai)料(liao)在納(na)米尺度下的機械性能。UNHT³ 采(cai)用特(te)異的主動表面參(can)比(bi)技(ji)術(shu)，消(xiao)除了熱(re)漂移和(he)框架(jia)剛(gang)度(du)的影(ying)響(xiang)。因(yin)此，非常(chang)適(shi)用於對所有類型(xing)的(de)材料(liao)（包(bao)括(kuo)聚(ju)合(he)物(wu)、納(na)米塗層(ceng)和(he)軟組(zu)織）進行原(yuan)子到(dao)納(na)米(mi)尺度的(de)長時(shi)間測量。對於極(ji)低(di)或(huo)極(ji)溫(wen)度下的(de)測量，真(zhen)空(kong)室(shi)版(ban)本(ben) (UNHT³ HTV) 適(shi)用於 -150℃ 至 800℃ 的(de)溫(wen)度以及(ji)低(di)至 10-7 mba的(de)真(zhen)空(kong)度(du)。

在(zai)特(te)別的 Step 表(biao)面試(shi)平(ping)臺(tai)上將(jiang)儀(yi)器化壓痕測試模(mo)塊(kuai)與 劃(hua)痕測試模(mo)塊(kuai) 、 納米(mi)摩(mo)擦磨(mo)損(sun)試驗(yan)模塊(kuai) 、甚至 原(yuan)子力(li)顯微鏡(jing)結(jie)合在(zai)壹(yi)起(qi)。

型(xing)號(hao): UNHT³  HTV：                                  

真(zhen)空(kong)環(huan)境(jing)可更好地(di)控(kong)制加熱(re)，並(bing)保護(hu)壓痕針尖(jian)和樣(yang)品免受(shou)氧化

全自動程序(xu)，可將(jiang)熱(re)漂移降(jiang)至低(di)位(wei)

從(cong) -150℃ 至 800℃ 的(de)可變(bian)溫(wen)度測試

真(zhen)空(kong)度(du)低(di)至 10-7 mbar

型(xing)號(hao): UNHT³  Standard：

環(huan)境(jing)條件下的(de)測量

從(cong)室溫(wen)至 200℃ 的(de)可變(bian)溫(wen)度測試

超納(na)米(mi)壓痕測試儀(yi)關鍵功能(neng)

準確(que)的納(na)米壓痕測試儀(yi)

UNHT³ 可測量他人估(gu)計的結果(guo)：兩個(ge)獨立(li)的(de)位移(yi)和(he)載(zai)荷(he)傳(chuan)感(gan)器可真(zhen)正(zheng)可(ke)靠地(di)控(kong)制力(li)和壓入深(shen)度。另(ling)外(wai)，UNHT³ 采(cai)用特(te)別的主(zhu)動表面參(can)比(bi)設計：參(can)考(kao)參(can)比(bi)針尖(jian)記錄樣(yang)品的(de)表面位移位置，同時(shi)針尖(jian)壓痕完(wan)成測量，以此扣除熱(re)漂移和(he)框架(jia)剛(gang)度(du)影響(xiang)。這種(zhong)特(te)別的設(she)計支持大(da)範(fan)圍(wei)的(de)壓入位移(yi)（從幾(ji) nm 到(dao) 100 μm）和壓入載(zai)荷(he)（從(cong)幾(ji) μN 到(dao) 100 mN）。

市場(chang)上穩定性(xing)較高(gao)的(de)納(na)米(mi)壓痕測試儀(yi)

UNHT³ 采(cai)用特(te)別的主(zhu)動表面參(can)比(bi)技(ji)術(shu)和(he)無熱(re)膨脹(zhang)的(de) Zerodur 材質(zhi)，是市面(mian)上壹(yi)款無(wu)需任何(he)位(wei)移校正(zheng)且(qie)熱(re)漂移低(di)至可(ke)忽(hu)略(lve)不(bu)計 (10 fm/sec) 的納米壓痕測試儀(yi)。憑借特(te)別的穩定性(xing)，UNHT³ 是可(ke)用來(lai)長期(qi)測量蠕(ru)變(bian)等測試的(de)納米壓痕測試儀(yi)。

高(gao)效(xiao)率(lv)和(he)測量速(su)度（每小時(shi)測量 >600 次(ci)）

借助(zhu)該(gai)儀器特(te)別的熱(re)穩定性(xing)，樣(yang)品在(zai)安裝(zhuang)後即(ji)刻便能(neng)進行測量，不(bu)必等待(dai)數小(xiao)時(shi)以便(bian)其(qi)達(da)到(dao)熱(re)穩定狀態(tai)。因(yin)此，每天(tian)可單獨測量許(xu)多樣(yang)品。使用“快(kuai)速(su)點(dian)陣(zhen)"模式(shi)，每(mei)小(xiao)時(shi)可通(tong)過真(zhen)實的壓痕曲(qu)線(xian)和(he) 600 多(duo)個(ge)壓痕。另外(wai)，用戶(hu)配置、測量模(mo)式、多樣(yang)品測量和(he)可定制(zhi)報告(gao)也促(cu)使其(qi)成(cheng)為(wei)市面(mian)上效(xiao)率(lv)超高(gao)的(de)儀(yi)器(qi)。

通(tong)過“Sinus 動態(tai)測量模(mo)式"進行其(qi)他動態(tai)機械分析 (DMA)

使用集(ji)成的(de)“Sinus 動態(tai)測量模(mo)式"，可以對機械特(te)性進行位移(yi)曲(qu)線(xian) DMA 分(fen)析(xi)（HIT、EIT 對比(bi)位(wei)移），並(bing)可(ke)測量薄(bo)膜到塊(kuai)狀材(cai)料(liao)等樣(yang)品的(de)粘彈特(te)性（E'、E''：儲(chu)能(neng)和(he)損(sun)耗(hao)模量、tan δ）。Sinus 動態(tai)測量模(mo)式還提供其(qi)他功能(neng)，例(li)如(ru)壓痕儀快(kuai)速校正(zheng)以及(ji)應(ying)力(li)/應變(bian)分析(xi)。

在高(gao)真(zhen)空(kong)和(he)高(gao)達(da) 800℃ 的(de)高(gao)溫(wen)下進行測量

UNHT³ 的(de) HHT 版(ban)本(ben)是壹(yi)款配備(bei)全(quan)自動程序(xu)的超納(na)米(mi)壓痕儀，可(ke)將熱(re)漂移降(jiang)至低(di)位(wei)，在(zai)整個(ge)溫(wen)度範(fan)圍(wei)內(nei)實現(xian)熱(re)漂移<3 nm/min。這是通(tong)過特(te)別的加熱(re)控制(zhi)系(xi)統(tong)來實現(xian)的，該(gai)加熱(re)控制(zhi)系(xi)統(tong)以 0.1℃ 的(de)精(jing)度(du)同時(shi)控制(zhi)樣(yang)品和(he)壓痕針尖(jian)溫(wen)度。壓痕軟件控(kong)制加熱(re)和環(huan)境(jing)條件，並(bing)與系(xi)統(tong)實時(shi)交互，以最大(da)限(xian)度地(di)減(jian)少熱(re)漂移，並(bing)啟(qi)動所有所需的測量。您(nin)可以計劃(hua)壹(yi)組(zu)具(ju)有不(bu)同溫(wen)度步(bu)長的(de)任何類型(xing)的(de)壓痕（也可(ke)使用標準 UNHT³），儀器(qi)會(hui)根(gen)據預設矩(ju)陣(zhen)自動進行測量。