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        1. 您(nin)好(hao),歡迎訪(fang)問上海恪瑞儀器科(ke)技(ji)有(you)限公(gong)司(si)
          產(chan)品(pin)展(zhan)示(shi)當前位(wei)置:首頁(ye)>產(chan)品(pin)中心>奧地利(li)安(an)東(dong)帕>壓(ya)痕儀>MCT³微觀組(zu)合測(ce)試儀

          微觀組(zu)合測(ce)試儀

          簡要描(miao)述(shu):微(wei)觀組(zu)合測(ce)試儀 (MCT³) 是壹款(kuan)通(tong)用測(ce)量(liang)頭(tou),可(ke)各方位(wei)面(mian)表征塗(tu)層(ceng)和塊狀樣品的(de)力(li)學(xue)性(xing)能。
          該儀器載(zai)荷(he)範圍大,能夠(gou)確(que)定多(duo)種(zhong)樣品(pin)的(de)附(fu)著力、耐劃(hua)擦(ca)性、硬(ying)度、彈性(xing)模(mo)量(liang)、摩(mo)擦(ca)和磨(mo)損等。它適(shi)用於(yu)有(you)機(ji)和無機(ji)塗(tu)層(ceng)以及軟硬(ying)塗(tu)層(ceng)(1 µm 到 20 µm 之(zhi)間),也(ye)適(shi)用於(yu)塊體材(cai)料。
          Step 表面試平(ping)臺(tai)上將儀器化(hua)壓(ya)痕測(ce)試模(mo)塊與(yu) 劃(hua)痕測(ce)試模(mo)塊 、 納(na)米(mi)摩擦(ca)磨損(sun)試驗模(mo)塊 、甚(shen)至原(yuan)子(zi)力(li)顯微(wei)鏡(jing)結(jie)合在壹起(qi)。

          • 產(chan)品(pin)型(xing)號(hao):MCT³
          • 廠商(shang)性質(zhi):經銷(xiao)商
          • 更(geng)新時間:2025-12-25
          • 訪(fang)  問  量(liang):2897

          產(chan)品(pin)概(gai)述(shu)

          品(pin)牌Anton Paar/安(an)東(dong)帕產(chan)地類別進(jin)口
          應(ying)用領(ling)域(yu)化(hua)工,石(shi)油

          微(wei)觀組(zu)合測(ce)試儀:MCT³

          ——使用壹(yi)個測(ce)量(liang)單(dan)元(yuan)進行(xing)力(li)學性能分析的(de)劃(hua)痕、儀器化(hua)壓(ya)入(ru)和(he)摩(mo)擦(ca)磨損(sun)測(ce)試

          微觀組(zu)合測(ce)試儀 (MCT³) 是壹款(kuan)通(tong)用測(ce)量(liang)頭(tou),可(ke)各方位(wei)面(mian)表征塗(tu)層(ceng)和塊狀樣品的(de)力(li)學(xue)性(xing)能。

          該儀器載(zai)荷(he)範圍大,能夠(gou)確(que)定多(duo)種(zhong)樣品(pin)的(de)附(fu)著力、耐劃(hua)擦(ca)性、硬(ying)度、彈性(xing)模(mo)量(liang)、摩(mo)擦(ca)和磨(mo)損等。它適(shi)用於(yu)有(you)機(ji)和無機(ji)塗(tu)層(ceng)以及軟硬(ying)塗(tu)層(ceng)(1 µm 到 20 µm 之(zhi)間),也(ye)適(shi)用於(yu)塊體材(cai)料。

          Step 表面試平(ping)臺(tai)上將儀器化(hua)壓(ya)痕測(ce)試模(mo)塊與(yu) 劃(hua)痕測(ce)試模(mo)塊 、 納(na)米(mi)摩擦(ca)磨損(sun)試驗模(mo)塊 、甚(shen)至原(yuan)子(zi)力(li)顯微(wei)鏡(jing)結(jie)合在壹起(qi)。


          關鍵(jian)功能:

          三(san)合(he)壹:劃(hua)痕、儀器化(hua)壓(ya)入(ru)和(he)摩(mo)擦(ca)的全面綜(zong)合(he)的測(ce)試

          該儀器采用特異的(de)機(ji)械設計(ji),將三(san)種(zhong)不(bu)同(tong)的(de)力學特性分析測(ce)量(liang)方法結(jie)合在壹個測(ce)量(liang)單(dan)元(yuan)上,而且絲毫(hao)不(bu)影響測(ce)量(liang)質(zhi)量(liang)。使用同(tong)壹個測(ce)量(liang)單(dan)元(yuan),您(nin)可(ke)通(tong)過劃(hua)痕測(ce)試測(ce)量(liang)塗(tu)層(ceng)附(fu)著力和耐劃(hua)擦(ca)性,通(tong)過儀器化(hua)壓(ya)入(ru)測(ce)試 (IIT) 測(ce)量(liang)彈(dan)性(xing)模(mo)量(liang),並(bing)通過多(duo)次(ci)摩(mo)擦(ca)測(ce)試測(ce)量(liang)摩(mo)擦(ca)和磨(mo)損。

                自(zi)動(dong)的(de)力(li)性(xing)能(neng)分析測(ce)試儀

          和安(an)東(dong)帕的所有(you)劃(hua)痕測(ce)試儀壹樣(yang),MCT³ 可(ke)自(zi)動(dong)判定臨界載荷(he)。利(li)用摩(mo)擦(ca)力、劃(hua)痕深(shen)度或(huo)聲(sheng)發射信號(hao),及算法(fa)分析這(zhe)些(xie)信號(hao)並(bing)自動(dong)確(que)定臨界載荷(he),使結(jie)果(guo)不(bu)受(shou)任何(he)操作(zuo)者的影響。此外(wai),在單次(ci)測(ce)量(liang)中(zhong),通(tong)過儀器化(hua)壓(ya)入(ru)技(ji)術還可(ke)確(que)定各個(ge)位(wei)置(用戶(hu)自定義矩陣(zhen))的硬(ying)度和彈(dan)性(xing)模(mo)量(liang)。

          理(li)想(xiang)的(de)載荷範圍,涵蓋(gai)更(geng)廣泛的(de)應(ying)用領(ling)域(yu)

          MCT³ 能夠(gou)執(zhi)行(xing)從(cong)小位(wei)移(yi)(表面檢測(ce)幾(ji)納米)到(dao)大位(wei)移(yi)(最大值為(wei) 1 mm)的劃(hua)痕和(he)儀器化(hua)壓(ya)入(ru) (IIT) 測(ce)試。其施(shi)加和(he)測(ce)量(liang)的(de)載(zai)荷範(fan)圍廣泛

          (從(cong) 10 mN 到 30 N),幾乎適(shi)用所(suo)有(you)樣品(pin)的(de)特性。這(zhe)種(zhong)載荷(he)和(he)深(shen)度範圍非(fei)常適(shi)用於(yu)硬(ying)質(zhi)塗(tu)層(ceng)(1 µm 至 20 µm 的(de) CVD、PVD)、熱(re)噴(pen)塗(tu)/等離(li)子(zi)噴(pen)塗(tu)塗(tu)層(ceng)、凝膠材(cai)料、金(jin)屬(shu)和聚(ju)合(he)物(wu)的(de)力學性能(neng)分析。

                 同(tong)步(bu)全景成(cheng)像模(mo)式(shi)

          這(zhe)種(zhong)功能可(ke)以自(zi)動(dong)將所有(you)傳感器信號(hao)記錄(lu)和全景成(cheng)像的劃(hua)痕圖(tu)像實(shi)現全面同(tong)步(bu)。這(zhe)樣(yang)壹來,通過觀察同步(bu)的(de)光(guang)學和其(qi)他(ta)信號(hao)記錄(lu),即可(ke)輕松判定臨界載荷(he)。安(an)東(dong)帕是美國(guo) 8261600 和歐洲 EP 2065695 的持有(you)人。

                 即(ji)使在曲(qu)面和(he)粗(cu)糙(cao)表面也可(ke)獲(huo)得的(de)結(jie)果(guo)

          由(you)於(yu)采用了特異的(de)載荷(he)傳感器控(kong)制(zhi)技(ji)術,MCT³ 劃(hua)痕系統可(ke)探(tan)知(zhi)表面形(xing)貌(mao)的(de)偏差,並(bing)且通(tong)過主動(dong)力(li)反(fan)饋系統來校(xiao)正這(zhe)些(xie)偏差。

          無(wu)論(lun)樣(yang)品(pin)的(de)表面形(xing)貌(mao)如(ru)何(he),MCT³ 都(dou)能(neng)夠(gou)通(tong)過全面控(kong)制(zhi)的所需(xu)載荷(he)來跟(gen)蹤樣品(pin)表面形(xing)貌(mao),在粗(cu)糙(cao)表面和曲(qu)面(例(li)如(ru)鏡(jing)頭(tou))上進行(xing)非(fei)常可(ke)靠(kao)的測(ce)量(liang)。


          技(ji)術規(gui)格(ge)

          微(wei)觀組(zu)合測(ce)試儀









































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