納米壓痕(hen)測試(shi)儀(yi)

納米壓痕(hen)測試(shi)儀(yi)：NHT³——市場功能(neng)上(shang)最(zui)多且簡(jian)單易(yi)用(yong)的(de)納米壓痕(hen)儀(yi)

NHT³ 納米壓痕(hen)儀(yi)適合(he)在(zai)納米到微(wei)米的(de)尺(chi)度下(xia)測量(liang)硬(ying)度、彈性(xing)模量(liang)、蠕(ru)變(bian)以及(ji)其(qi)他表面(mian)特性(xing)。它的(de)量程為 0.1 mN 至 500 mN，提(ti)供最大的(de)通用(yong)性(xing)。由於(yu)特(te)別(bie)的(de)表面(mian)參比技術，無需等(deng)待(dai)其(qi)達(da)到(dao)熱(re)穩定(ding)狀(zhuang)態(tai)，開機(ji)立(li)即進(jin)行儀(yi)器壓痕測試(shi)。“快(kuai)速(su)點(dian)陣"壓(ya)痕模(mo)式可實現高(gao)效(xiao)率（每(mei)小時測試(shi)量高(gao)達(da) 600 個(ge)壓痕(hen)）。

在(zai)特別(bie)的(de) Step 表面(mian)試(shi)平臺(tai)上(shang)將(jiang)儀(yi)器化(hua)壓(ya)痕(hen)測試(shi)模塊(kuai)與 劃痕(hen)測試(shi)模塊(kuai) 、 納米摩擦(ca)磨損試(shi)驗模(mo)塊(kuai) 、甚至 原子(zi)力(li)顯(xian)微(wei)鏡結(jie)合(he)在(zai)壹起(qi)。

關(guan)鍵功能(neng)

簡(jian)單明了的(de)納米壓痕(hen)測量(liang)

使(shi)用(yong)安東(dong)帕(pa)直(zhi)觀(guan)的(de)軟件，可以輕松定義和分析(xi)從(cong)標準(zhun)到(dao)高級(ji)方(fang)法執行(xing)的(de)各(ge)種(zhong)儀(yi)器壓痕測量(liang)。集(ji)成(cheng)顯(xian)微(wei)鏡提(ti)供大的(de)放大倍數，讓您(nin)能(neng)觀(guan)察到(dao)樣品(pin)表面(mian)，從(cong)而(er)直(zhi)接(jie)確定測量(liang)位(wei)置(zhi)。而(er)且，參比環(huan)可(ke)全(quan)面(mian)保護(hu)壓痕(hen)針尖不(bu)受碰撞(zhuang)，並(bing)且(qie)不(bu)到 2 分鐘(zhong)即可(ke)更(geng)換(huan)測量(liang)針(zhen)尖。

高準確度且(qie)測量(liang)時間短

該儀(yi)器的(de)設計特別(bie)，頂(ding)部集(ji)成(cheng)了表面(mian)參比環(huan)，它在(zai)壓痕(hen)測量(liang)過(guo)程中可(ke)以追蹤(zong)樣品(pin)表面(mian)。這意(yi)味(wei)著(zhe)，它始(shi)終根據當前的(de)表面(mian)位置(zhi)來直(zhi)接(jie)測量(liang)壓(ya)入(ru)深度。安東(dong)帕(pa)納米壓痕(hen)儀(yi)是(shi)具(ju)備(bei)此特別(bie)功能(neng)的(de)儀(yi)器，這意(yi)味(wei)著(zhe) NHT³ 可提(ti)供準確的(de)結果(guo)和不(bu)易(yi)出錯(cuo)的(de)軟件校(xiao)正(zheng)功能(neng)。這種(zhong)技術的(de)另(ling)壹(yi)個(ge)優點(dian)是(shi)，在(zai)安裝(zhuang)樣品(pin)後(hou)可以立即開始(shi)測量(liang)，而(er)無需等(deng)待(dai)數(shu)小(xiao)時以便其(qi)達(da)到(dao)熱(re)穩定(ding)狀(zhuang)態(tai)。

快(kuai)速(su)點(dian)陣實現高(gao)效(xiao)率

使用(yong)快(kuai)速(su)測量(liang)模(mo)式，每(mei)小時可通(tong)過(guo)真實的(de)壓痕曲(qu)線測量(liang)多達 600 個(ge)壓痕(hen)。借(jie)助(zhu)參比式(shi)設計，無需等(deng)待(dai)達(da)到(dao)熱(re)穩定(ding)狀(zhuang)態(tai)，讓(rang)您(nin)每(mei)天可(ke)以安裝(zhuang)和立(li)即測量(liang)大量樣品(pin)。憑(ping)借用(yong)戶配(pei)置(zhi)、測量(liang)模(mo)式、多樣品(pin)測量(liang)及(ji)可定(ding)制報(bao)告，NHT³ 成(cheng)為市面(mian)上(shang)通(tong)量較高(gao)的(de)儀(yi)器。

通過(guo)“Sinus 動(dong)態(tai)測量(liang)模(mo)式"進行其(qi)他動(dong)態(tai)機(ji)械(xie)分析(xi) (DMA)

使(shi)用(yong) Sinus 動(dong)態(tai)測量(liang)模(mo)式，您(nin)可(ke)以執行(xing) DMA 分析(xi)來研(yan)究(jiu)機(ji)械(xie)特性(xing)隨(sui)深度的(de)變(bian)化(hua)情(qing)況(kuang)（HIT、EIT 對比深度），並(bing)分析(xi)樣品(pin)的(de)粘彈性(xing)（E'、E'：儲(chu)能(neng)和損(sun)耗模量、tan δ）。Sinus 動(dong)態(tai)測量(liang)模(mo)式還提(ti)供其(qi)他功能(neng)，例(li)如(ru)壓(ya)痕(hen)針尖快(kuai)速(su)校(xiao)正(zheng)以及(ji)應力(li)/應變(bian)分析(xi)。

納米壓痕(hen)測試(shi)儀(yi)技術規格(ge)