Agilent 7800 電(dian)感耦合(he)等(deng)離(li)子(zi)體質譜(pu)儀

Agilent 7800 電(dian)感耦合(he)等(deng)離(li)子(zi)體質譜(pu)儀結合(he)成熟、穩定(ding)的(de)硬件(jian)配(pei)置(zhi)、自(zi)動優化工具與(yu)預設(she)方(fang)法(fa)簡化常(chang)規分析(xi)。硬(ying)件(jian)具(ju)有高基(ji)體耐受能(neng)力、寬(kuan)動(dong)態範(fan)圍(wei)並(bing)能對多(duo)原子(zi)幹擾進(jin)行有(you)效(xiao)控制，可消除復(fu)雜多(duo)變的(de)樣 品基(ji)體帶(dai)來(lai)的(de)不確(que)定(ding)性(xing)。7800 ICP-MS 極(ji)易設(she)置(zhi)和(he)使(shi)用(yong)，因(yin)此您(nin)可以(yi)快(kuai)速(su)獲得(de)多(duo)種樣品類型的(de)可靠結果(guo)。

Agilent 7800 電(dian)感耦合(he)等(deng)離(li)子(zi)體質譜(pu)儀特性(xing)：

● 快(kuai)速(su)提(ti)高常(chang)規金屬分析(xi)效(xiao)率 — ICP-MS MassHunter 軟(ruan)件包(bao)含(han)預定(ding)義(yi)設置(zhi)的(de)可簡便加(jia)載(zai)和(he)運行的(de)預設(she)方(fang)法(fa)，預定(ding)義(yi)設置(zhi)涉及(ji)從(cong)等(deng)離(li)子(zi)體條件(jian)到分析(xi)物(wu)積(ji)分時間及內標(biao)。對於新(xin)方(fang)法(fa)，方(fang)法(fa)向(xiang)導(dao)將根(gen)據(ju)樣品類型和(he)應用(yong)建立(li)方(fang)法(fa)。了(le)解關於飲(yin)用水、環境廢(fei)棄(qi)物(wu)和(he)制藥(yao)產(chan)品(pin)解決方(fang)案中元素雜質的(de)更多(duo)信息(xi)。

       ● 減少(shao)樣品前處(chu)理(li) — 7800 ICP-MS 標配(pei)*的(de)耐高鹽(yan)進(jin)樣 (HMI) 技術，無(wu)需(xu)稀釋(shi)即可分析(xi)總(zong)溶解固(gu)體 (TDS) 含(han)量(liang)高達(da) 3% 的(de)樣品，減少(shao)了(le)樣品前處(chu)理(li)並(bing)節(jie)省(sheng)了(le)時間。

       ● 大(da)限度(du)減小(xiao)信號(hao)抑制 — HMI 能減少信(xin)號抑(yi)制，因此可以(yi)準(zhun)確(que)測(ce)定高基(ji)體樣品而無(wu)需(xu)標樣的(de)基(ji)體匹(pi)配(pei)。

       ● 有(you)效(xiao)去除幹擾，確(que)保(bao)數(shu)據(ju)準確(que)性(xing) — 氦氣(qi) (He) 碰(peng)撞模(mo)式可在同(tong)壹(yi)套質譜(pu)條件(jian)下去除所有多(duo)原子(zi)離(li)子(zi)幹擾，簡化了(le)方(fang)法(fa)開(kai)發(fa)與(yu)日常(chang)操作。He 模(mo)式無(wu)需(xu)基(ji)體特異性(xing)或(huo)分析(xi)物(wu)特異性(xing)反(fan)應(ying)池條件(jian)。

       ● 在壹(yi)次運行中同時分析(xi)常(chang)量(liang)和(he)痕量(liang)元素 — 寬動(dong)態範(fan)圍(wei)正(zheng)交檢(jian)測(ce)器(qi)系(xi)統(tong) (ODS) 可在壹(yi)次運行中實現常(chang)量(liang)元素（數(shu)百(bai)或(huo)數(shu)千(qian) ppm）與(yu)痕量(liang)元素（ppt 或(huo)亞 ppt 級）的(de)直(zhi)接(jie)分析(xi)。較(jiao)高的(de)上限濃度(du)可減少(shao)由超(chao)量(liang)程結果(guo)造成的(de)樣品再運行。

       ● 大(da)程度(du)提(ti)高通量(liang)和(he)分析(xi)效(xiao)率 — 可選的(de)集(ji)成式進(jin)樣系統(tong) (ISIS 3) 和(he) SPS 4 自(zi)動進(jin)樣器可在不(bu)影響(xiang)數(shu)據(ju)質量(liang)的(de)前提(ti)下降(jiang)低每個(ge)樣品的(de)分析(xi)成(cheng)本。