激光(guang)納米(mi)粒度分析儀

激光(guang)納米(mi)粒度分析儀Litesizer 500

點擊(ji)按鍵進(jin)行(xing)粒(li)度分析

Litesizer 500 是(shi)用(yong)於(yu)表征分散型樣品和(he)溶(rong)液中納米(mi)顆粒以(yi)及微(wei)顆(ke)粒(li)的儀器。它(ta)可(ke)通過測量動態(tai)光(guang)散(san)射(she) (DLS)、電泳(yong)光散(san)射 (ELS) 和靜(jing)態(tai)光(guang)散射 (SLS) 來測定顆(ke)粒(li)尺(chi)寸(cun)、zeta 電(dian)位和分子量。

此外(wai)，Litesizer™ 500 是壹款(kuan)基(ji)於(yu) DLS 的顆粒分析儀可(ke)以對(dui)樣品的折光(guang)率進(jin)行(xing)簡(jian)潔(jie)明了(le)的測量。

Litesizer 500 的壹個亮點是其(qi)設(she)計巧(qiao)妙的簡單軟(ruan)件(jian)。我們已創建(jian)了可(ke)將輸入(ru)參數(shu)、結果(guo)和分析集(ji)中到單(dan)個(ge)頁面上(shang)的壹頁式(shi)工(gong)作(zuo)流(liu)程：您可(ke)以在數(shu)秒內(nei)完(wan)成試驗設(she)置，只(zhi)需簡(jian)單(dan)按鍵即(ji)可(ke)得出(chu)所(suo)需的分析結果(guo)和報告(gao)。

激光(guang)納米(mi)粒度分析儀Litesizer 500關鍵(jian)功能(neng)

可(ke)自動測量連(lian)續的透射比(bi)

通過透(tou)光率，您(nin)可(ke)以立(li)即(ji)獲(huo)得樣品反饋並自動優(you)化測量參數(shu)（角(jiao)度、聚(ju)焦(jiao)位置和測量持續時(shi)間）。

精(jing)確(que)確(que)定折光(guang)率

雖(sui)然(ran)對(dui)於(yu)大(da)部分顆(ke)粒(li)分析儀而言，這些(xie)指(zhi)數必(bi)須(xu)通(tong)過外(wai)部來源(yuan)來(lai)確(que)定，但 Litesizer 500 能(neng)夠測量您的試驗的精確波長(chang)和(he)溫(wen)度的折光(guang)率。這(zhe)確(que)保(bao)了在所(suo)有試(shi)驗條件(jian)下，獲(huo)得高精(jing)確度的粒徑和 zeta 電(dian)位值。

Litesizer 500 確定的溶劑折光(guang)率的誤差在 ±0.5 % 之(zhi)內(nei)，符(fu)合 ISO 22412:2017 規(gui)定(ding)的 DLS 所需折光(guang)率精(jing)度。

顆粒尺寸(cun)測量：超高(gao)分(fen)辨(bian)率

固(gu)件(jian)采用(yong)了(le)非(fei)常*的算法(fa)，因此可(ke)以精(jing)確測量單壹(yi)懸浮液中幾(ji)種不同(tong)的顆粒尺寸(cun)。

cmPALS – 新(xin)的 zeta 電位技(ji)術

憑(ping)借(jie) cmPALS技(ji)術，在相(xiang)當短(duan)的測量時間(jian)內(nei)以(yi)及(ji)更低(di)的應(ying)用(yong)電(dian)場下即(ji)可(ke)進(jin)行(xing)測量，從而對(dui)極(ji)其(qi)敏(min)感(gan)的樣品進(jin)行(xing)可(ke)靠測量。

*的 Ω 形 zeta 電位毛細管(guan)

由於(yu)zeta電位樣品池(chi)具(ju)有(you)*的 Ω 形毛細管(guan)，因(yin)此測量結果(guo)更為穩(wen)定(ding)且更(geng)可(ke)再現。

簡(jian)單(dan)智(zhi)能(neng)的軟(ruan)件(jian) - Kalliope™

Kalliope™ 提供壹頁式(shi)工(gong)作(zuo)流(liu)，輸入(ru)參(can)數(shu)、測量和分(fen)析唾(tuo)手(shou)可(ke)得。Kalliope™ *符(fu)合 FDA 的 21 CFR Part 11 法(fa)規(gui)要(yao)求。