納米壓痕(hen)測試(shi)儀(yi)對(dui)樣品(pin)有(you)什(shen)麽(me)要求(qiu)？

納(na)米壓痕(hen)測試(shi)儀(yi)對(dui)測試(shi)樣(yang)品(pin)的(de)要求(qiu)：

1. 樣(yang)品(pin)要求(qiu)：上下(xia)表面(mian)平(ping)行拋光(guang)，直徑(jing)不(bu)超過30mm，高(gao)度(du)不(bu)超過20mm，如果(guo)高(gao)度(du)超過10mm，直徑(jing)需(xu)保(bao)證是30mm左右，如果(guo)直徑(jing)小(xiao)於(yu)10mm，那麽高(gao)度(du)建議(yi)5mm以(yi)下(xia)，利(li)於(yu)樣(yang)品(pin)測試(shi)過程中的穩(wen)固；如果(guo)是鑲的(de)樣(yang)品(pin)，盡(jin)量(liang)加(jia)工(gong)成(cheng)直徑(jing)31.5mm，要不(bu)然(ran)容(rong)易(yi)打(da)偏(pian)；

2. 特(te)別(bie)註意：試(shi)樣(yang)厚度(du)至少大(da)於(yu)壓入深(shen)度(du)h的10倍(bei)以(yi)上，壓(ya)入深(shen)度(du)h至少是粗(cu)糙(cao)度(du)Ra的20倍(bei)；壓(ya)入深(shen)度(du)小於(yu)100nm數(shu)據(ju)可(ke)靠(kao)度(du)不(bu)高(gao)；壓(ya)入深(shen)度(du)壹(yi)般(ban)2-3微米，深(shen)度(du)再大(da)沒(mei)有太大(da)意義；對(dui)於表面(mian)比(bi)較(jiao)粗(cu)糙(cao)的(de)樣品(pin)，測試(shi)結(jie)果(guo)比(bi)較(jiao)離散，建議(yi)測試(shi)點(dian)數不(bu)低於10個(ge)；樣(yang)品(pin)表面(mian)平(ping)整(zheng)，不(bu)得有油(you)汙、顆粒物等汙染物；提供(gong)樣(yang)品(pin)的(de)泊(bo)松(song)比(bi)。

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