X射(she)線(xian)衍(yan)射(she)儀(yi)對樣品(pin)有哪(na)些要(yao)求

　　X射(she)線(xian)衍(yan)射(she)儀(yi)是目(mu)前(qian)應(ying)用(yong)廣(guang)泛(fan)的(de)研究(jiu)晶(jing)體結(jie)構的(de)裝置(zhi)。X射(she)線(xian)衍(yan)射(she)儀(yi)可分(fen)為X射(she)線(xian)單(dan)晶衍(yan)射(she)儀(yi)和X射(she)線(xian)多(duo)晶(jing)衍(yan)射(she)儀(yi)。X射(she)線(xian)衍(yan)射(she)儀(yi)是利用(yong)衍(yan)射(she)原(yuan)理(li)，精確測定(ding)物質(zhi)的(de)晶體結(jie)構，織(zhi)構及(ji)應(ying)力，精確的(de)進行(xing)物相(xiang)分析(xi)，定(ding)性(xing)分析(xi)，定(ding)量分析(xi)。廣(guang)泛(fan)應(ying)用(yong)於(yu)冶金(jin)，石(shi)油，化(hua)工(gong)，科研，航(hang)空航(hang)天，教(jiao)學，材(cai)料生產等(deng)領(ling)域(yu)。X射(she)線(xian)衍(yan)射(she)儀(yi)的(de)形(xing)式(shi)多種多樣，用(yong)途各(ge)異(yi)，但其(qi)基本構成(cheng)很(hen)相似(si)。

　　X射(she)線(xian)衍(yan)射(she)儀(yi)是應(ying)用(yong)面較(jiao)廣(guang)的(de)儀(yi)器(qi)設(she)備(bei)，是對流體、粉(fen)末(mo)及塊(kuai)狀(zhuang)晶體等(deng)物質(zhi)的(de)重要(yao)無(wu)損分析(xi)工(gong)具，主(zhu)要(yao)應(ying)用(yong)於(yu)樣品(pin)的(de)物相(xiang)定(ding)性(xing)分析(xi)和定(ding)量分析(xi)、晶體結(jie)構分(fen)析(xi)以及(ji)材(cai)料的(de)織構分(fen)析(xi)、晶粒(li)大(da)小、結(jie)晶(jing)度測定(ding)等(deng)。作為物質(zhi)結構表(biao)征的(de)不(bu)可少(shao)的(de)手段(duan)，X射(she)線(xian)衍(yan)射(she)分(fen)析(xi)在(zai)化學(xue)、材(cai)料學(xue)、物理(li)學、地質(zhi)、環境(jing)、納(na)米(mi)材(cai)料、生物等(deng)領(ling)域(yu)均具有重要(yao)的(de)應(ying)用(yong)。運用(yong)X射(she)線(xian)衍(yan)射(she)儀(yi)可以(yi)獲(huo)得分(fen)析(xi)對象(xiang)的(de)粉末(mo)X射(she)線(xian)衍(yan)射(she)圖(tu)譜，只(zhi)要(yao)樣品(pin)是可(ke)以制(zhi)成粉(fen)末(mo)的(de)固態(tai)樣品(pin)或者是能(neng)夠(gou)加(jia)工(gong)出小平(ping)面的(de)塊狀(zhuang)樣品(pin)，都可(ke)以用(yong)它進行(xing)分析(xi)測試(shi)。

　　X射(she)線(xian)衍(yan)射(she)儀(yi)對樣品(pin)有哪(na)些要(yao)求：

　　1、粉(fen)末(mo)樣品(pin)要(yao)求磨(mo)成(cheng)320目(mu)的(de)粒度，大(da)概(gai)40微米(mi)。如(ru)果(guo)粒度粗(cu)大(da)，那麽就(jiu)會(hui)有較低(di)的(de)分辨率(lv)，不(bu)是太(tai)好的(de)峰形(xing)以及(ji)較(jiao)低的(de)衍(yan)射(she)強度。要(yao)對(dui)如(ru)樣品(pin)是否(fou)易燃(ran)，易潮(chao)解，易(yi)腐蝕(shi)、有毒、易(yi)揮發(fa)這(zhe)些物理(li)化學(xue)性(xing)質加(jia)以(yi)了(le)解。

　　2、要(yao)求粉(fen)末(mo)樣品(pin)在(zai)3克左右，即(ji)使太(tai)少也(ye)需5毫(hao)克(ke)。

　　3、樣品(pin)能(neng)夠(gou)使有機、無(wu)機(ji)材(cai)料、金(jin)屬、非(fei)金屬粉末。

　　4、要(yao)求將(jiang)如(ru)塊(kuai)狀(zhuang)、板狀(zhuang)、圓(yuan)拄(zhu)狀(zhuang)金屬樣品(pin)磨(mo)成(cheng)壹(yi)個(ge)平(ping)面，面積(ji)不(bu)能(neng)比(bi)10mm×10mm小，若(ruo)面積(ji)偏小，則(ze)可(ke)以(yi)將幾塊粘貼在(zai)壹起(qi)。

　　5、對於(yu)片狀(zhuang)、圓(yuan)拄(zhu)狀(zhuang)樣品(pin)來說(shuo)，擇優(you)取(qu)向(xiang)比(bi)較(jiao)嚴(yan)重，有著比(bi)較(jiao)異(yi)常的(de)衍(yan)射(she)強度。所以要(yao)求在(zai)測試(shi)時，要(yao)對(dui)響應(ying)的(de)方(fang)向(xiang)平(ping)面進行(xing)合理(li)的(de)選(xuan)擇。

　　6、對於(yu)殘余奧(ao)氏(shi)體的(de)測量以及(ji)金屬樣品(pin)的(de)微觀(guan)應(ying)力（晶格(ge)畸變）的(de)測量，要(yao)求樣品(pin)不(bu)可以(yi)簡單(dan)粗(cu)糙(cao)，要(yao)求制(zhi)備(bei)成金相樣品(pin)，並且進行(xing)電解拋(pao)光或者普通拋光，將(jiang)表面應(ying)變層消除。