來(lai)來(lai)來(lai)，大家(jia)壹(yi)起認識近紅(hong)外(wai)分(fen)析

近(jin)紅(hong)外(wai)光譜技(ji)術(shu)是

如何做(zuo)定性(xing)分(fen)析

定性(xing)分(fen)析是指(zhi)確(que)認(ren)分(fen)析對象是什(shen)麽(me)，或者確(que)認(ren)是或者不(bu)是(shi)某種物質(zhi)。

定性(xing)分(fen)析步驟(zhou)：

1. 建立判(pan)別(bie)模(mo)型，即(ji)收集壹(yi)定數量的樣品、確(que)定已知(zhi)類(lei)別(bie)、掃描(miao)近紅(hong)外(wai)光譜，通(tong)過(guo)壹(yi)定數學(xue)算法(fa)將(jiang)光譜或(huo)其(qi)壓(ya)縮的變(bian)量（如主(zhu)成(cheng)分(fen)）組成(cheng)壹(yi)個(ge)多(duo)維(wei)的變(bian)量空間，同類(lei)物質(zhi)在該(gai)多(duo)維(wei)空間中相(xiang)距較近(jin)，異類(lei)樣本(ben)則(ze)相(xiang)距較遠(yuan)，從(cong)而識別(bie)不(bu)同類(lei)群完(wan)成(cheng)建模(mo)。

2. 驗證(zheng)模(mo)型，即(ji)采(cai)用壹(yi)定數量的不(bu)同類(lei)群樣(yang)品，掃(sao)描(miao)近紅(hong)外(wai)光譜，然後(hou)調用模(mo)型對這些樣品進(jin)行(xing)預測(ce)，並和(he)已知(zhi)的類(lei)別(bie)歸屬(shu)進行比(bi)較和(he)評估。

3. 模(mo)型通(tong)過驗(yan)證(zheng)後(hou)，掃描(miao)未(wei)知(zhi)樣品的近紅(hong)外(wai)光譜，考察其(qi)光譜是(shi)否(fou)位(wei)於(yu)某類(lei)物質(zhi)所(suo)在(zai)的空間，判(pan)斷其(qi)類(lei)別(bie)歸屬(shu)。

近紅外(wai)光譜技(ji)術(shu)是
如何進行(xing)定量分(fen)析
定量分(fen)析的理論依(yi)據：
透(tou)射(she)式采(cai)集(ji)方(fang)式如下圖(tu)，吸(xi)光度的強度與樣(yang)品中組分(fen)含量的關系(xi)可(ke)以(yi)由(you)比(bi)爾(er)定律(lv)決(jue)定，比(bi)爾(er)定律(lv)是指(zhi)壹(yi)定波(bo)長的單色(se)光垂直通過某(mou)壹(yi)均(jun)勻(yun)非(fei)散(san)射物質(zhi)時，其(qi)吸光度A與光程(cheng)d及濃度(du)c成(cheng)正(zheng)比(bi)，比(bi)例常數為吸(xi)光度系(xi)數，其(qi)表達式為：A = -logItrans/I0 = -logT = εcd。
其(qi)中I0為照(zhao)射(she)背(bei)景的入射(she)光強度；Itrans為(wei)透過(guo)液(ye)體(ti)後(hou)的光束(shu)的強度；A為(wei)吸光度；ε為(wei)待測(ce)組分(fen)的吸收系數；d為光程(cheng)；c為(wei)待(dai)測(ce)組分(fen)濃度。

漫反(fan)射的采(cai)集(ji)方(fang)式如下圖(tu)，漫(man)反射(she)光是光源(yuan)發出(chu)的光進入(ru)樣品內(nei)部(bu)後(hou)，經過(guo)多(duo)次(ci)的反射(she)、折射、衍射(she)、吸(xi)收後(hou)返回(hui)表(biao)面(mian)的光，這種分(fen)析光負載了樣品的結構(gou)和(he)組成(cheng)信息。但漫反(fan)射(she)的過程(cheng)中樣品與光存在(zai)多(duo)種作用形式，除樣品的組成(cheng)外(wai)，其(qi)粒徑(jing)大小、分(fen)布(bu)及形狀等物(wu)理狀態(tai)均(jun)對漫反射光的強度產生(sheng)壹(yi)定的影響(xiang)，因此漫(man)反(fan)射光的強度與樣(yang)品組分(fen)含量近似(si)滿足(zu)比(bi)爾(er)定律(lv)。

通過(guo)數學(xue)推(tui)導，研(yan)究(jiu)了與樣(yang)品含量成(cheng)線(xian)性(xing)關(guan)系的漫反(fan)射(she)光譜參數，表達式為：A = -logI_scatt/I₀= -log R = const•εc

其(qi)中：I₀為照(zhao)射(she)背(bei)景的入射(she)光強度；I_scatt為(wei)樣品漫(man)反(fan)射後(hou)的光束(shu)強度；A 為(wei)吸光度；const為(wei)散(san)射系數，ε為待(dai)測(ce)組分(fen)的吸收系數；c為待(dai)測(ce)組分(fen)的濃度(du)。

光譜定量的依據(ju)是(shi)比(bi)爾(er)定律(lv)，該線(xian)性(xing)關(guan)系是以(yi)單色(se)光和稀溶液(ye)為假(jia)設(she)前(qian)提(ti)的，且不(bu)考慮(lv)吸光溶質(zhi)分(fen)子與周圍(wei)分(fen)子間的作用。實(shi)際(ji)樣品尤其(qi)是復(fu)雜(za)的天(tian)然產物的吸光度和(he)濃度(du)之(zhi)間(jian)往往(wang)不(bu)是(shi)簡單的線(xian)性(xing)關(guan)系，通過(guo)傳(chuan)統(tong)的單波(bo)長校正(zheng)曲線(xian)的方(fang)法(fa)已不(bu)能(neng)得到(dao)滿意(yi)的結果(guo)，而通常需要(yao)選(xuan)用整(zheng)個(ge)波(bo)數範圍(wei)結合(he)化(hua)學(xue)計(ji)量學(xue)方(fang)法(fa)（如PLS）進行分(fen)析。

定量分(fen)析的步驟(zhou)：

1. 建立校正(zheng)模(mo)型，即(ji)收集壹(yi)定數量的建模(mo)樣品，分(fen)別(bie)測(ce)定樣(yang)品的近紅(hong)外(wai)光譜和(he)化(hua)學(xue)分(fen)析值，通(tong)過(guo)化(hua)學(xue)計(ji)量學(xue)方(fang)法(fa)建立二(er)者之(zhi)間(jian)的數學(xue)關系(xi)（稱(cheng)為(wei)模(mo)型）。

2. 模(mo)型校正(zheng)，即(ji)采(cai)用壹(yi)定數量的同類(lei)樣品（化(hua)學(xue)分(fen)析值已知(zhi)），掃描近紅(hong)外(wai)光譜，然後(hou)調用模(mo)型對這些樣品進(jin)行(xing)預測(ce)，並和(he)已知(zhi)的化(hua)學(xue)分(fen)析值進(jin)行(xing)比(bi)較，通(tong)過統(tong)計(ji)學(xue)的方(fang)法(fa)對模(mo)型進(jin)行評(ping)估。

3. 模(mo)型通(tong)過驗(yan)證(zheng)後(hou)就可(ke)用於(yu)未(wei)知(zhi)樣品的測(ce)定。